Pomiary wielkości fizycznych w energetyce

Informacje ogólne

Kod przedmiotu:

EN0-DI>PWFwE

Kod Erasmus / ISCED:

(brak danych) / (brak danych)

Nazwa przedmiotu:

Pomiary wielkości fizycznych w energetyce

Jednostka:

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych

Grupy:

Przedmioty 3 sem. - energetyka, st. I-go stopnia (inż.)

Punkty ECTS i inne:

(brak)

Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS:

roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.

zobacz reguły punktacji

Język prowadzenia:

polski

Pełny opis:

Moduł prowadzony jest na trzecim semestrze studiów inżynierskich na kierunku "energetyka".

Treści kształcenia

- Czujniki wielkości nieelektrycznych - właściwości statyczne i dynamiczne

Elektryczne układy przetwarzające. Układy normalizacji sygnału.

Tory przetwarzania analogowo-cyfrowego

Karty i moduły pomiarowe

Mikroprocesory i mikrokonwertery. Przetworniki inteligentne.

Interfejsy w technice pomiarowej (RS232, RS-485, IEEE-488).

Komputerowe systemy pomiarowe. Programowanie systemów pomiarowych.

Kalibracja systemów pomiarowych.

Przykłady systemów do pomiaru wielkości fizycznych: mocy i energii elektrycznej, temperatury, przepływu cieczy i gazów, prędkości.

Literatura:

Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych

Marks-Wojciechowska Z., Pacholski K., Kulesza W. - Systemy pomiarowe - Wydawnictwo Politechniki Łódzkiej, Łódź. - 1999

Janiczek R. - Elektryczne miernictwo przemysłowe - Wydawnictwo Politechniki Częstochowskiej, Częstochowa. - 1994

Romer E. - Mienictwo przemysłowe - PWN, Warszawa. - 1978

Nawrocki W. - Sensory i systemy pomiarowe - Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej, Poznań. - 2001

Świsulski D. - Systemy pomiarowe - laboratorium - Wydawnictwo Politechniki Gdańskiej, Gdańsk. - 2001

Winiecki W. - Organizacja komputerowych systemów pomiarowych - Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa. - 1997

Literatura do samodzielnego studiowania

Tumański S. - Laboratorium miernictwa przemysłowego - Skrypt PW, Warszawa. - 1978

Szumielewicz B., Słomski B., Styburski W. - Pomiary elektroniczne w technice - WNT, Warszawa. - 1982

Sydenham H. - Pdręcznik metrologii T.2. Podstawy praktyczne - WKiŁ, Warszawa. - 1990

Miłek M. - Pomiary wielkości nieelektrycznych metodami elektrycznymi. Podręcznik akademicki - Zielona Góra. - 1998

Literatura uzupełniająca

Mielczarek W. - Urządzenia pomiarowe i systemy kompatybilne ze standardem SCPI - Helion, Gliwice. - 1999

Analog Devices - Precision Analog Microcontroller, 12 bit Analog I/O and PWM - . -

Analog Devices - ADSP-2100 Family User's manual - . -

Publikacje naukowe

P. Otomański; E. Pawłowski; A. Szlachta - The Evaluation of Expanded Uncertainty of DC Voltages in the Presence of Electromagnetic Interferences using the LabVIEW Environment - . - 2021

A. Kowalczyk; A. Szlachta - Propagacja i analiza sygnałów w wybranych systemach elektronicznych i telekomunikacyjnych - OFICYNA WYDAWNICZA POLITECHNIKI RZESZOWSKIEJ. - 2020

M. Dorozhovets; A. Szlachta - Uncertainties of theestimators and parameters of distribution in measurements with multiply observations - . - 2020

A. Golijanek-Jędrzejczyk; R. Hanus; M. Jaszczur; A. Szlachta; M. Zych - Signal processing in the investigation of two-phase liquid-gas flow by gamma-ray absorption - Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE). - 2019

I. Bubela; M. Dorozhovets; A. Szlachta - Investigation of the Instrumental Components in Uncertainty of Extreme Random Observations - Springer. - 2019

R. Chorzępa; R. Hanus; A. Kowalczyk; A. Szlachta - Application of Conditional Averaging to Time Delay Estimation of Random Signals - . - 2018

A. Odon; A. Szlachta - Sterownik diod LED dużej mocy do badań charakterystyki częstotliwościowej detektorów piroelektrycznych - . - 2017

A. Odon; A. Szlachta - System automatycznego sterowania przepływem wody - . - 2017

K. Sidor; A. Szlachta - The Impact of the Implementation of Edge Detection Methods on the Accuracy of Automatic Voltage Reading - . - 2017

R. Chorzępa; R. Hanus; A. Kowalczyk; A. Szlachta - Estimation of Conditional Expected Value for Exponentially Autocorrelated Data - . - 2017

W. Harasymowicz; A. Szlachta - System monitoringu produkcji MES oparty na platformie Raspberry PI - WYDAWNICTWO NAUKOWE AKADEMII TECHNICZNO-HUMANISTYCZNEJ W BIELSKU BIAŁEJ. - 2017

A. Kowalczyk; A. Szlachta - Phase shift measurement method using conditional averaging of the delayed signal module - . - 2016

A. Kowalczyk; A. Szlachta - Warunkowa wartość oczekiwana w estymacji przesunięcia fazowego - Politechnika Lubelska. - 2016

A. Odon; A. Szlachta - Model transmitacyjny detektora piroelektrycznego dla celów badań symulacyjnych - Politechnika Poznańska. - 2016

A. Szlachta - MSM - Międzynarodowe Seminaria Metrologów - . - 2016

A. Szlachta - Przyrządy wirtualne wspomagające nauczanie podstaw metrologii - . - 2016

K. Brydak; A. Szlachta - Measuring methods of welding process parameters - WYDAWNICTWO PAK - AGENDA SIMP. - 2016

R. Hanus; A. Kowalczyk; A. Szlachta - Time delay measurement method using conditional averaging of the delayed signal module - . - 2016

Efekty uczenia się:

Student, który zaliczył moduł	Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia	Sposoby weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia
Wyjaśnia podstawowe pojęcia ogólnie opisujące właściwości metrologiczne statyczne i dynamiczne czujników i układów normalizacji sygnałów	wykład, wykład interaktywny	zaliczenie część pisemna
Przeprowadza podstawowe eksperymenty przetwarzania sygnałów i wyznaczania właściwości metrologicznych w analogowych torach pomiarowych	laboratorium, laboratorium problemowe	obserwacja wykonawstwa, ocena sprawozdania
Wykorzystuje wybrane cyfrowe systemy pomiarowe do przetwarzania danych i uzyskania wyniku pomiaru	laboratorium, laboratorium problemowe	obserwacja wykonawstwa, ocena sprawozdania

Metody i kryteria oceniania:

na ocenę 3	na ocenę 4	na ocenę 5
Wyjaśnia podstawowe pojęcia ogólnie opisujące właściwości metrologiczne statyczne i dynamiczne czujników i układów normalizacji sygnałów	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również podaje i omawia właściwości metrologiczne wybranych przetworników pomiarowych	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również podaje i omawia przykłady nietypowych (złożonych) sytuacji pomiarowych
Przeprowadza podstawowe eksperymenty przetwarzania sygnałów i wyznaczania właściwości metrologicznych w analogowych torach pomiarowych	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również interpretuje wyniki dla podstawowych zastosowań (układów) pomiarowych	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również potrafi twórczo rozwijać wykonywane eksperymenty
Wykorzystuje wybrane cyfrowe systemy pomiarowe do przetwarzania danych i uzyskania wyniku pomiaru	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również interpretuje wyniki dla podstawowych zastosowań (układów) pomiarowych	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również potrafi twórczo rozwijać wykonywane eksperymenty

Przedmiot nie jest oferowany w żadnym z aktualnych cykli dydaktycznych.

Opisy przedmiotów w USOS i USOSweb są chronione prawem autorskim.
Właścicielem praw autorskich jest Politechnika Rzeszowska im. Ignacego Łukasiewicza.