Miernictwo przemysłowe

Informacje ogólne

Kod przedmiotu:

ET/S-DI>MP

Kod Erasmus / ISCED:

(brak danych) / (brak danych)

Nazwa przedmiotu:

Miernictwo przemysłowe

Jednostka:

Katedra Metrologii i Systemów Diagnostycznych

Grupy:

Punkty ECTS i inne:

(brak)

Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS:

roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.

zobacz reguły punktacji

Język prowadzenia:

polski

Pełny opis:

Moduł prowadzony jest na siódmym semestrze studiów inżynierskich na kierunku "Elektronika i telekomunikacja" jako moduł wybierany dla specjalności "Elektroniczne systemy pomiarowe i diagnostyczne" ET/S-DI-4(07).

Treści kształcenia

- Zaawansowane właściwości metrologiczne czujników i przetworników pomiarowych.

- Zaawansowane metody wyznaczania właściwości metrologicznych czujników i przetworników pomiarowych

- Czujniki inteligentne - zaawansowane właściwości metrologiczne.

- Czujniki i pomiary temperatury i wielkości cieplnych.

- Czujniki i pomiary wilgotności i ciśnienia.

- Czujniki i pomiary wielkości optycznych.

- Czujniki i pomiary wielkości akustycznych.

- Czujniki i pomiary wielkości chemicznych.

Literatura:

Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych

Nawrocki W. - Sensory i systemy pomiarowe - Wyd. P. Poznańskiej. - 2001

Chwaleba A. - Właściwości i projektowanie wybranych przetworników mechano-elektrycznych - O.W. P. Radomskiej. - 1998

Turkowski M. - Przemysłowe sensory i przetworniki pomiarowe - O.W. P. Warszawskiej. - 2000

Rząsa M. - Elektryczne i elektroniczne czujniki temperatury - WKŁ. - 2005

Literatura wykorzystywana podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/innych

jak wyżej - - . -

Literatura do samodzielnego studiowania

Miłek M. - Pomiary wielkości nieelektrycznych metodami elektrycznymi - Wyd. P. Zielonogórskiej. - 1998

Literatura uzupełniająca

Webster J. G. - The Measurement, Instrumentation and Sensors Handbook - CRC Press. - 1999

Wilson J. S. - Sensor Technology Handbook - Newnes. - 2005

Pallas-Areny R. - Sensors and Signal Conditioning - John Wiley & Sons. - 2001

Publikacje naukowe

Ł. Byczyński; D. Czachor; Ł. Florczak; K. Kowalczyk; E. Pavlova; B. Pilch-Pitera; J. Wojturski - Conductive polyurethane-based powder clear coatings modified with carbon nanotubes - . - 2019

Efekty uczenia się:

Student, który zaliczył moduł	Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia	Sposoby weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia
Omawia budowę i zasadę działania zaawansowanych czujników i przetworników pomiarowych.	wykład, laboratorium	zaliczenie cz. pisemna
Omawia budowę złożonego toru pomiarowego z czujnikami i przetwornikami pomiarowymi.	wykład, laboratorium	zaliczenie cz. pisemna
Wyznacza zaawansowane właściwości metrologiczne czujników i przetworników pomiarowych.	wykład, laboratorium	sprawozdanie pisemne

Metody i kryteria oceniania:

na ocenę 3	na ocenę 4	na ocenę 5
Umie wykonać analizę metrologiczną toru pomiarowego	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również uwzględnia wpływ zakłóceń zewnętrznych przemysłowych	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również uwzględnia podczas pomiaru sytuacje nietypowe
Zna technologie wytwarzania sensorów	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również umie zastosować w warunkach laboratoryjnych	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również dokonać wyboru dla warunków przemysłowych
Umie zaprojektować prosty system pomiarowy i wykonać jego dokumentację techniczną	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również uwzględnić czas wykonywania operacji w technologii	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również uwzględnić wpływ właściwości otoczenia w warunkach nietypowych

Przedmiot nie jest oferowany w żadnym z aktualnych cykli dydaktycznych.

Opisy przedmiotów w USOS i USOSweb są chronione prawem autorskim.
Właścicielem praw autorskich jest Politechnika Rzeszowska im. Ignacego Łukasiewicza.