Drukuj sylabus

Metrologia techniczna i systemy pomiarowe

Informacje ogólne

Kod przedmiotu:

ME0-DI>MTiSP

Kod Erasmus / ISCED:

(brak danych) / (brak danych)

Nazwa przedmiotu:

Metrologia techniczna i systemy pomiarowe

Jednostka:

Katedra Technik Wytwarzania i Automatyzacji

Grupy:

Przedmioty 6 sem. - mech.-informatyka i robotyka, st. I-go stopnia (inż.)

Punkty ECTS i inne:

4.00 Podstawowe informacje o zasadach przyporządkowania punktów ECTS:

roczny wymiar godzinowy nakładu pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się dla danego etapu studiów wynosi 1500-1800 h, co odpowiada 60 ECTS;
tygodniowy wymiar godzinowy nakładu pracy studenta wynosi 45 h;
1 punkt ECTS odpowiada 25-30 godzinom pracy studenta potrzebnej do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się;
tygodniowy nakład pracy studenta konieczny do osiągnięcia zakładanych efektów uczenia się pozwala uzyskać 1,5 ECTS;
nakład pracy potrzebny do zaliczenia przedmiotu, któremu przypisano 3 ECTS, stanowi 10% semestralnego obciążenia studenta.

Język prowadzenia:

polski

Pełny opis:

Moduł dotyczący metrologii wielkości geometrycznych oraz podstaw pomiarów metodami elektronicznymi.

Treści kształcenia

- Układ tolerancji i pasowań. Tolerancja wymiaru.

- Wprowadzenie do tolerowania geometrycznego. Tolerancje kształtu, kierunku, położenia i bicia.

- Zarysy okrągłości ustalone dla całej analizowanej powierzchni.

- Zarysy walcowości, prostoliniowości i płaskości.

- Tolerancje kątów i stożków.

- Funkcjonalny wybór, oznaczenie i interpretacja tolerancji geometrycznych.

- Tolerancje wybranych złożonych elementów geometrycznych.

- Analiza niedokładności pomiarów w budowie maszyn.

- Statystyczna kontrola procesu wytwarzania wyrobu.

- Chropowatość i falistość powierzchni.

- Pomiary wymiarów i odchyłek kształtu prostych elementów geometrycznych.

- Pomiary odchyłek kierunku, położenia i bicia prostych elementów geometrycznych.

- Pomiary odchyłek złożonych elementów geometrycznych na przykładzie gwintu.

- Pomiary odchyłek złożonych elementów geometrycznych na przykładzie koła zębatego.

- Statystyczna kontrola procesu wytwarzania wyrobu na wybranym przykładzie.

- Pomiary chropowatości powierzchni.

- Ćwiczenia tablicowe dotyczące układu tolerancji i pasowań.

- Ćwiczenia tablicowe dotyczące niepewności pomiarów.

- Wprowadzenie do współrzędnościowej techniki pomiarowej.

- Wprowadzenie to inżynierii odwrotnej.

- Podstawowe pojęcia dotyczące właściwości metrologicznych. Analiza błędów i niepewności pomiaru.

- Podstawowe narzędzia pomiarowe wielkości elektrycznych i ich właściwości metrologiczne

- Wybrane metody pomiaru i przetworniki pomiarowe wielkości fizycznych

- Systemy pomiarowe - wprowadznie do komputerowych i programowalnych systemów pomiarowych, przetwarzanie sygnału pomiarowego analogowego i przetwarzanie analogowo-cyfrowe

Literatura:

Literatura wykorzystywana podczas zajęć wykładowych

Adamczak S. - Pomiary geometryczne powierzchni - Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa. - 2008.

Arendarski J. - Niepewność pomiarów - Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa. - 2006.

Humienny Z., Osanna P. H., Tamre M., Weckenmann A., Blunt L., Jakubiec W. - Specyfikacje geometrii wyrobów (GPS). Podręcznik europejski - Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa. - 2004.

Jakubiec W., Malinowski J. - Metrologia wielkości geometrycznych - Wydawnictwa Naukowo Techniczne, Warszawa. - 2004.

Chwaleba A., Poniński M., Siedlecki A. - Metrologia elektryczna - WNT. -

Tumański S. - Technika pomiarowa - WNT. - 2007

Piotrowski J. (red) - Pomiary - czujniki pomiarowe wybranych wielkości fizycznych i składu chemicznego - WNT. - 2009

Literatura wykorzystywana podczas zajęć ćwiczeniowych/laboratoryjnych/innych

Adamczak S., Makieła W. - Metrologia w budowie maszyn. Zadania z rozwiązaniami. - Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa. - 2007.

Adamczak S., Makieła W. - Podstawy metrologii i inżynierii jakości dla mechaników - Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa. - 2010.

Pieniążek J. - Laboratorium metrologii elektrycznej i systemów pomiarowych: materiały pomocnicze do ćwiczeń lab. - . -

Literatura do samodzielnego studiowania

Oczoś K. E., Liubimov V. - Struktura geometryczna powierzchni. Podstawy klasyfikacji z atlasem charakterystycznych powierzchni - Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów. - 2003

Pawlus P. - Topografia powierzchni. Pomiar, analiza, oddziaływanie. - Oficyna Wydawnicza Politechniki Rzeszowskiej, Rzeszów. - 2005.

Literatura uzupełniająca

Malinowski J., Jakubiec W., Płowucha W. - Pomiary gwintów w budowie maszyn - Wydawnictwa Naukowo-Techniczne, Warszawa. - 2008.

Ratajczyk E. - Współrzędnościowa technika pomiarowa - Oficyna Wydawnicza Politechniki Warszawskiej, Warszawa. - 2005.

Horowitz P., Hill W. - Sztuka elektroniki - WKiŁ. -

Efekty uczenia się:

Student, który zaliczył moduł	Formy zajęć/metody dydaktyczne prowadzące do osiągnięcia danego efektu kształcenia	Sposoby weryfikacji każdego z wymienionych efektów kształcenia
Posiada uporządkowaną wiedzę w zakresie tolerowania prostych elementów geometrycznych.	wykład, laboratorium	zaliczenie cz. pisemna, sprawozdanie
Posiada podstawową wiedzę w zakresie tolerowania złożonych elementów geometrycznych.	wykład, laboratorium	zaliczenie cz. pisemna, sprawozdanie
Posiada podstawową wiedzę w zakresie szacowania niepewności pomiaru.	wykład, laboratorium	zaliczenie cz. pisemna, sprawozdanie
Posiada podstawową wiedzę w zakresie statystycznej kontroli procesu wytwarzania.	wykład, laboratorium	zaliczenie cz. pisemna, sprawozdanie
Posiada uporządkowaną wiedzę w zakresie chropowatości i falistości powierzchni.	wykład, laboratorium	zaliczenie cz. pisemna, sprawozdanie
Potrafi posługiwać się przyrządami pomiarowymi w zakresie pomiarów odchyłek prostych i złożonych elementów geometrycznych oraz interpretować wyniki uzyskanych pomiarów.	laboratorium	sprawozdanie
Potrafi posługiwać się przyrządami pomiarowymi w zakresie pomiarów chropowatości powierzchni oraz interpretować wyniki uzyskanych pomiarów.	laboratorium	sprawozdanie
Posiada wiedzę podstawową w zakresie pojęć wykorzystywanych w metrologii, potrafi ją wykorzystać do opisu prostych zadań pomiarowych oraz potrafi się posługiwać podstawowymi narzedziami pomiarowymi i potrafi opisać podstawowe właściwości elementów układów pomiarowych.	wykład, laboratorium	obserwacja wykonawstwa, raport pisemny, zaliczenie cz. ustna

Metody i kryteria oceniania:

na ocenę 3	na ocenę 4	na ocenę 5
Posiada uporządkowaną wiedzę w zakresie tolerowania prostych elementów geometrycznych.	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również
Posiada podstawową wiedzę w zakresie tolerowania złożonych elementów geometrycznych.	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również
Posiada podstawową wiedzę w zakresie szacowania niepewności pomiaru.	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również
Posiada podstawową wiedzę w zakresie statystycznej kontroli procesu wytwarzania.	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również
Posiada uporządkowaną wiedzę w zakresie chropowatości i falistości powierzchni.	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również
Potrafi posługiwać się przyrządami pomiarowymi w zakresie pomiarów odchyłek prostych i złożonych elementów geometrycznych oraz interpretować wyniki uzyskanych pomiarów.	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również
Potrafi posługiwać się przyrządami pomiarowymi w zakresie pomiarów chropowatości powierzchni oraz interpretować wyniki uzyskanych pomiarów.	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również
Posiada wiedzę podstawową w zakresie pojęć wykorzystywanych w metrologii, potrafi ją wykorzystać do opisu prostych zadań pomiarowych oraz potrafi się posługiwać podstawowymi narzedziami pomiarowymi i potrafi opisać podstawowe właściwości elementów układów pomiarowych.	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 3, ale również Poziom wiedzy i umiejętności obejmuje podstawowe układy pomiarowe	nie tylko osiągnął poziom wiedzy i umiejętności wymagany na ocenę 4, ale również Potrafi przeprowadzić krytyczną analizę właściwości układów i metod pomiarowych

Zajęcia w cyklu "Semestr letni 2021/22" (zakończony)

Okres:	2022-02-26 - 2022-06-21	Wybrany podział planu: tygodniowy cykl przedmiotu Przejdź do planu PN LAB WT LAB LAB LAB LAB LAB LAB LAB ŚR CZ PT WYK WYK
Typ zajęć:	Laboratorium, 30 godzin więcej informacji Wykład, 30 godzin więcej informacji
Koordynatorzy:	Marek Magdziak, Jacek Pieniążek
Prowadzący grup:	Marek Magdziak, Jacek Pieniążek, Piotr Szczerba, Teresa Wolicka
Lista studentów:	(nie masz dostępu)
Zaliczenie:	Zaliczenie

Zajęcia w cyklu "Semestr letni 2022/23" (zakończony)

Okres:	2023-02-25 - 2023-06-21	Wybrany podział planu: tygodniowy cykl przedmiotu Przejdź do planu PN LAB WT LAB LAB LAB LAB ŚR LAB CZ LAB LAB LAB PT LAB WYK WYK
Typ zajęć:	Laboratorium, 30 godzin więcej informacji Wykład, 30 godzin więcej informacji
Koordynatorzy:	Marek Magdziak, Jacek Pieniążek
Prowadzący grup:	Marek Magdziak, Jacek Pieniążek, Piotr Szczerba, Teresa Wolicka
Lista studentów:	(nie masz dostępu)
Zaliczenie:	Zaliczenie

Opisy przedmiotów w USOS i USOSweb są chronione prawem autorskim.
Właścicielem praw autorskich jest Politechnika Rzeszowska im. Ignacego Łukasiewicza.